De ultrasone transducers van Checkline zijn verkrijgbaar in verschillende frequenties, dempingsniveaus en sondekarakteristieken voor een breed scala aan toepassingen. De keuze van de juiste transducer garandeert nauwkeurige metingen, afhankelijk van het materiaaltype, de coating en het diktebereik.

Transducerkarakteristieken en demping

Standaard probes: Ideaal voor puls-echometingen op ongecoate materialen, metaalcoatings of zeer dunne verflagen. Deze probes bieden een goede penetratie en zijn geschikt voor algemeen gebruik.

Composiet probes: Beter geschikt voor zachtere of minder uniforme materialen. Ze bieden een grotere bandbreedte met een verbeterde resolutie en detail, terwijl ze toch een redelijke penetratie behouden.

HD probes (hoge demping): Ontworpen voor echo-echometingen (door de coating heen) en puls-echometingen. De echo-echomodus wordt gebruikt om de coatingdikte uit de meting te verwijderen en is effectief wanneer de wanddikte meer dan 2,5 mm en de coating minder dan 1,0 mm is.

CT probes: Hooggedempte transducers, speciaal ontworpen voor de TI-CMX-serie voor het meten van wanddikte, coatingdikte of beide. Ze ondersteunen:

• Coatingmetingen: Tot 2,5 mm
• Echo-Echo-metingen: Vereist een wanddikte > 2,5 mm
• Echo-Echo-Verify: (Alleen op compatibele modellen) Vereist een wanddikte > 1,25 mm

Transducerfrequentiegids

1/2" Dual Element Probes zijn verkrijgbaar in frequenties van 1 MHz tot 10 MHz. De juiste frequentiekeuze hangt af van uw inspectiediepte en resolutiebehoeften:

• Lage frequenties (1–2,25 MHz): Bieden een diepere penetratie voor dikke of verzwakkende materialen. Lagere resolutie en een grotere dode zone – minder geschikt voor dunne wanden.
• Middenfrequenties (3,5–5 MHz): Balans tussen penetratie en resolutie. Veelzijdig voor de meeste standaardtoepassingen.
• Hoge frequenties (7,5–10 MHz): Bieden een hogere resolutie met een ondiepere penetratie. Het meest geschikt voor dunne materialen en fijne metingen.

Raadpleeg de onderstaande transducerselectietabel om de beste match te vinden op basis van materiaaltype, oppervlakteconditie en meetbereik.