Contact
Telefoon:
+31 (0)53 4356060
E-mail :
sales@checkline.eu
De MiniTest 725 beschikt over een ingebouwde sensor voor gemakkelijke bediening met één hand.
De nieuwe MiniTest 725 laagdiktemeters zijn het ideale instrument voor al uw laagdiktemetingen waarbij een betrouwbare afwerking en perfect uiterlijk van het product een belangrijke rol spelen voor de waarde en het succes van het product op lange termijn. Om maar een paar sectoren te noemen waarin deze meter gebruikt kan worden zijn er de automobiel industrie, scheepsbouw, staal- en bruggenbouw of in de galvanische industrie
De nieuwe MiniTest 725 meters zijn voorzien van een instelbare meetsnelheid zodat de meter zich aan kan passen aan veranderde eisen voor grootst mogelijke efficiëntie en productiviteit: het nemen van vele metingen in een korte tijd met een gemiddelde nauwkeurigheid of het nemen van slechts enkele metingen met verhoogde nauwkeurigheid. Ook is de MiniTest 725 ergonomisch ontworpen en zijn afgeronde vorm zorgt dat de laagdiktemeter perfect in uw handpalm ligt.
Alle MiniTest 725 sensoren compenseren onregelmatig gevormde oppervlakken dankzij de vooraf gedefinieerde beschikbare kalibratie methoden die zich kunnen aanpassen aan een brede scala van verschillende oppervlakken en nauwkeurigheidseisen.
De MiniTest 725 meters zijn uitgerust met de nieuwe SIDSP® sensoren.
SIDSP® is een wereldwijd toonaangevende technologie voor laagdikte sensoren. Met deze nieuwe technologie is een nieuwe standaard voor innovatieve laagdiktemetingen neergezet. SIDSP® staat voor Sensor-Integrated Digital Signal Processing - een technologie waarbij de signalen volledig worden verwerkt in digitale vorm in de sensor op het tijdstip en de plaats van de meting. SIDSP® sensoren zijn vervaardigd volgens volledig nieuwe productietechnieken.
In tegenstelling tot conventionele technieken maken en beheren de SIDSP® sensoren de excitatiesignalen voor de sensorkop binnenin de sensor. De terugkerende signalen worden direct digitaal omgezet en verwerkt met een precisie van 32 bits om u de volledige laagdiktewaarde te geven. Voor deze techniek zijn zeer geavanceerde methoden voor digitale signaalverwerking gebruikt zoals bekend van moderne telecommunicatie technologieën (mobiele telefoonnetwerken) zoals digitale filters, omzetten van basisband, middeling, stochastische analyses, etc. Dit geeft de gebruiker een ongeëvenaarde signaalkwaliteit en precisie in verhouding tot analoge signaalverwerking. De waarde van de laagdikte wordt digitaal verzonden via de sensor kabel naar het beeldscherm. Deze technologie biedt doorslaggevende voordelen en verbeteringen ten opzichte van de gebruikelijke analoge sensoren waardoor er een nieuwe standaard in laagdiktemetingen wordt neergezet.
De nieuwe SIDSP® sensoren garanderen het volgende:
- Hoge stabiliteit van meetsignalen
- SIDSP® sensoren bieden hoge nauwkeurigheid
- SIDSP® sensoren zijn ongevoelig voor temperatuurschommelingen
- SIDSP® sensoren zorgen voor een uitstekend aanpassingsvermogen
- SIDSP® N en FN sensoren compenseren substraatgeleidbaarheid
- SIDSP® sensoren zijn slijtvast
- Toekomstgerichte oplossing
| Sensor Type | Ingebouwde sensor |
| Substraatherkenning | Ja, met FN sensoren |
| SIDSP® sensor | Ja, voor verhoogde nauwkeurigheid en reproduceerbaarheid |
| Sensor eigenschappen | Zeer nauwkeurige sensor karakteristieken door tot 50 kalibratiepunten tijdens de productie |
| Individuele temperatuurcompensatie | Ja |
| Aantal geheugens | 10, gebruiker-definieerbaar geheugen door opstelling volgens batches |
| Totale geheugencapaciteit | max. 10.000 |
| Geheugenbatches | Bevatten metingen, een gedefinieerde kalibratie modus, parameters en statistieken berekend op basis van batch lezingen |
| Statistische evaluatie | Aantal metingen, minimum, maximum, gemiddelde waarde, standaardafwijking, variatiecoëfficient |
| Statistieken enkele lezing | Blokwaarde statistieken (conform norm/ gebruiker configureerbaar), opgeslagen metingen en statistische waarden kunnen individueel opgeroepen worden, print metingen en statistieken op MiniPrint 7000 printer, overdracht van meetwaarden en statistieken op PC |
| Kalibratiemodi | Fabriekskalibratie, nul-punt, 2-punts, 3-punts kalibratiem, kalibratie methode "ruw", door gebruiker instelbare startwaarde, door gebruiker instelbare correctiewaarde voor substraat ruwheid |
| Internationale kalibratieprocedures | ISO, SSPC, "Zweeds", "Australisch" |
| Meeteenheden | metrisch (μm, mm, cm) / imperisch (mils, inch, thou) verwisselbaar |
| Display | Groot grafisch display, verlicht, 180° draaibaar |
| Menu | Gebruiksvriendelijk, 25 talen |
| Software | Sensor en software updates beschikbaar via downloads |
| Meetsnelheid/ Nauwkeurigheid | Door gebruiker aan te passen naar standaard, snel, hoge precisie |
| Dikte identificatie | Continu-modus voor snelle identificatie van veranderingen in dikte |
| Automatische uitschakeling | Batterijbesparingsmodus met instelbare uitschakelingsmodus |
| Bescherming | IP40 |
| Gebruikstemperatuur | –10°C - 60°C |
| Opslagtemperatuur | – 20°C - 70°C |
| Datapoort | Bluetooth® 4.0, Bluetooth Smart®, Mini-USB |
| Voeding | 2x AA batterijen, oplaadbare NiMH accu batterijen type AA/HR6 (optioneel) |
| Normen en standaarden | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, ASTM B 244, B 499, D7091, E 376, AS 3894.3, SS 1841 60, SSPC-PA 2 |
| Gewicht | Ongeveer 175 gram |
| Afmetingen | 157 mm x 75,5 mm x 49 mm |
| Garantie | 1 jaar |
Sensor Model F:
Voor het meten van de laagdikte op ferro metalen
Meetprincipe: magnetische inductie principe (Ferro)
Sensor Model N:
Voor het meten van laagdikte op non-ferro metalen
Meetprincipe: wervelstroom principe (Non-Ferro)
Sensor Model FN:
Voor het meten van de laagdikte op ferro en non-ferro metalen
Meetprincipe: magnetische inductie principe & wervelstroom principe
| Measuring procedure | Sensor model | Type | Measuring range |
Uncertainty (of reading) |
Minimum measuring spot | MiniTest 725 | MiniTest 735 | MiniTest 745 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Magnetic-induction sensors | F 0.5M-0° F 0.5M-45° F 0.5M-90° |
A | 0 ... 0.5 mm | ± (0.5 μm + 0.75 %) | ø 3 mm | |||
| F1.5 | B / E | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| F 1.5-90° | C | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| F2 | B / E | 0 ... 2.0 mm | ± (1.5 μm + 0.75 %) | ø 10 mm | ||||
| F2.6 | B / E | 0 ... 2.6 mm | ± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| F 5 | B / E | 0 ... 5.0 mm | ± (1.5 μm + 0.75 %) | ø 10 mm | ||||
| F 15 | D | 0 ... 15 mm | ± (5.0 μm + 0.75 %) | ø 25 mm | ||||
| Eddy current sensors | N 0.3M-0° N 0.3M-45° N 0.3M-90° |
A | 0 ... 0.3 mm | ± (0.5 μm + 0.75 %) | ø 3 mm | |||
| N 0.7 | B / E | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| N 0.7-90° | C | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| N 2.5 | B / E | 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 μm + 0.75 %) | ø 10 mm | ||||
| N 7 | D | 0 ... 7.0 mm | ± (5.0 μm + 0.75 %) | ø 20 mm | ||||
| Dual sensors | FN 1.5 | B / E | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm |
± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | |||
| FN 1.5-90° | C | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm |
± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| FN 2.6 | B / E | F: 0 ... 2.6 mm N: 0 ... 1.0 mm |
± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 5 mm | ||||
| FN 5 | B / E | F: 0 ... 5.0 mm N: 0 ... 2.5 mm |
± (1.0 μm + 0.75 %) | ø 10 mm |
De MiniTest 725 wordt geleverd als een complete kit met:
