Alle genoemde prijzen zijn exclusief btw en verzend- en behandelingskosten.
Beschikbaarheid:
Beschikbaar: 1 - 3 dagen
,
Levertijd: 1 - 3 weken
,
Speciale bestelling aanvragen
- Home
- Diktemeting
- Wanddikte
- Ultrasone wanddiktemeters
- TI-CMX SERIES

Ultrasone wand- en laagdiktemeter TI-CMX Series

Wanddiktemeting op ultrasone diktemeter TI-CMX

Ultrasone diktemeter met datalogging TI-CMXDL

Ultrasone diktemeter met A-Scan-display TI-CMXDLP

Ultrasone diktemeter met A-Scan-kleurendisplay TI-CMXDLP-C

Ultrasone dubbelelementsondes voor diktemetingen TI-CMX Series

Afzonderlijke weergave van wand- en laagdikte TI-CMX Series

USB-aansluiting op ultrasone diktemeter TI-CMX Series








TI-CMX Series Ultrasone wand- en laagdiktemeters
Ultrasone wand- en laagdiktemeters voor corrosie-inspectiesDe TI-CMX Series bestaat uit vier ultrasone diktemeters waarmee u de wanddikte van een materiaal en de dikte van een coating vanaf één zijde van een onderdeel kunt meten. De meters zijn ontworpen voor corrosie-inspecties, het inspecteren van leidingen en tanks en industrieel onderhoud. Met geschikte meetmodi kunt u metingen uitvoeren op gecoate oppervlakken zonder de coating te verwijderen.
Kies de TI-CMX voor standaard diktemetingen, de TI-CMXDL voor het opslaan en overdragen van meetgegevens of de TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C voor geavanceerde inspecties met A-Scan-golfvormweergave. De TI-CMXDLP-C biedt daarnaast een kleurendisplay waarop u A-Scan-beelden zowel staand als liggend kunt weergeven.
Met de instelbare ultrasone meetmodi kunt u de wanddikte, de laagdikte of beide meten, afhankelijk van het materiaal, de meetsonde en de inspectieomstandigheden. Dankzij de beschikbare opties voor datalogging en golfvormweergave kunt u het instrument afstemmen op de gewenste meetregistratie en signaalanalyse.
- Ultrasone meting van wand- en laagdikte vanaf één zijde van het materiaal
- Vier modellen: TI-CMX, TI-CMXDL, TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C
- Pulse-Echo- en Echo-Echo-meetmodi voor corrosie-inspecties en wanddiktemetingen door coatings heen
- Laagdiktemeting en afzonderlijke weergave van wand- en laagdikte met een geschikte coatingmeetsonde
- Temperatuurgecompenseerde Pulse-Echo-modus voor metingen bij veranderende materiaaltemperaturen
- B-Scan-dwarsdoorsnedeweergave om dikteverschillen te volgen
- 4 GB intern geheugen voor datalogging bij de TI-CMXDL, TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C
- A-Scan-golfvormweergave met RF- en gelijkgerichte signalen bij de TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C
- A-Scan in kleur, met staande en liggende weergave, bij de TI-CMXDLP-C
- Automatische of handmatige herkenning van de meetsonde en nulstelling van de sonde
- -H-uitvoeringen met de T-102-2900-H-meetsonde voor materiaaltemperaturen tot 150 °C
- Ultrasone diktemeter TI-CMX Series (gekozen model)
- T-102-2900 dubbelelementsonde voor coatingmetingen, of T-102-2900-H hogetemperatuursonde bij -H-uitvoeringen
- Ultrasone koppelvloeistof
- AA-batterijen
- Draagkoffer
- Gebruiksaanwijzing
- Kalibratiecertificaat
- Pc-software en USB-kabel
Vergelijk de vier modellen van de TI-CMX Series om de juiste meet-, registratie- en golfvormweergavefuncties te kiezen.
| Kenmerk | TI-CMX | TI-CMXDL | TI-CMXDLP | TI-CMXDLP-C |
|---|---|---|---|---|
Uitvoering |
Standaard |
Datalogging |
Datalogging + A-Scan |
Datalogging + A-Scan in kleur |
Display |
Grijstinten |
Grijstinten |
Grijstinten |
AMOLED-kleurendisplay |
Datalogging |
Nee |
4 GB |
4 GB |
4 GB |
A-Scan-golfvormweergave |
Nee |
Nee |
RF en gelijkgericht |
RF en gelijkgericht |
Oriëntatie A-Scan |
— |
— |
Standaard |
Staand en liggend |
Dikteresolutie |
0,01 mm |
0,01 mm |
0,01 / 0,001 mm instelbaar |
0,01 / 0,001 mm instelbaar |
De -H-uitvoeringen van de TI-CMX, TI-CMXDL en TI-CMXDLP worden geleverd met de T-102-2900-H hogetemperatuursonde in plaats van de standaard T-102-2900-meetsonde. De hogetemperatuursonde is geschikt voor materiaaltemperaturen tot 150 °C.
De TI-CMX Series gebruikt verschillende ultrasone meetmethoden voor gecoate en ongecoate materialen. Welke meetmodus geschikt is, hangt ervan af of u de wanddikte, de laagdikte of beide wilt meten.
| Meetmodus | Meetprincipe en toepassing |
|---|---|
Pulse-Echo (P-E)
|
Bepaalt de materiaaldikte aan de hand van de looptijd van een ultrasone puls die door de tegenoverliggende materiaalwand wordt teruggekaatst. Wordt gebruikt voor algemene wanddiktemetingen en corrosie-inspecties. Oppervlaktecoatings kunnen het meetresultaat beïnvloeden. |
Pulse-Echo met coatingmeting (PECT)
|
Meet en toont de materiaaldikte en laagdikte afzonderlijk wanneer een geschikte coatingmeetsonde wordt gebruikt. |
Echo-Echo (E-E)
|
Meet het tijdsinterval tussen opeenvolgende echo's van de achterwand om de materiaaldikte door een coating heen te bepalen, zonder de laagdikte mee te rekenen. |
Echo-Echo Verify (E-EV)
|
Gebruikt aanvullende echo-informatie van de achterwand om de diktemeting te controleren. De beschikbaarheid hangt af van de uitvoering van het instrument. |
Temperatuurgecompenseerde Pulse-Echo (PETP)
|
Compenseert veranderingen in de ultrasone geluidssnelheid die samenhangen met veranderingen in de materiaaltemperatuur, met behulp van de temperatuurcompensatiefunctie van het instrument. |
Alleen laagdikte (CT)
|
Meet de dikte van een geschikte coating met een meetsonde die coatingmetingen ondersteunt. |
De meetprestaties zijn afhankelijk van het materiaal, de coating, de oppervlakteconditie, de kalibratie en de gekozen meetsonde. Niet elke meetmodus is geschikt voor iedere inspectie.
Ultrasone dubbelelementsondes hebben afzonderlijke elementen voor het verzenden en ontvangen van signalen. Hierdoor zijn ze geschikt voor corrosie-inspecties en wanddiktemetingen waarbij de oppervlakteconditie en de geometrie van het materiaal de ultrasone respons kunnen beïnvloeden.

De standaard T-102-2900 is een 1/4-inch, 5 MHz dubbelelementsonde die is ontworpen voor gebruik met de coatingmeetfuncties van de TI-CMX Series. Voor andere meettoepassingen zijn meetsondes met verschillende diameters en frequenties verkrijgbaar.
Wilt u de materiaaldikte en laagdikte gelijktijdig meten, kies dan een meetsonde die geschikt is voor coatingmetingen. Houd bij de keuze rekening met het materiaal, de verwachte dikte, de geometrie en de inspectietemperatuur.
Beschikbare meetsondes
| Meetsonde | Beschrijving |
|---|---|
T-101-2900 |
3/16-inch, 5 MHz meetsonde |
T-102-2900 |
1/4-inch, 5 MHz coatingmeetsonde; standaard meetsonde |
T-102-2900-2M |
1/4-inch, 5 MHz meetsonde met kabel van 2 m |
T-102-3900 |
1/4-inch, 7,5 MHz meetsonde |
T-104-2900 |
1/2-inch, 5 MHz meetsonde voor grote wanddiktes |
T-104-9900 |
1/2-inch, 3,5 MHz meetsonde voor gietijzer en kunststoffen |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Scanmodus |
B-Scan |
RF A-Scan |
Gelijkgerichte A-Scan |
Gelijkgerichte A-Scan, menu verborgen |
Beschikbaar op alle modellen van de TI-CMX Series |
Beschikbaar op alle modellen van de TI-CMX Series |
Beschikbaar op TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C |
Beschikbaar op TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C |
Beschikbaar op TI-CMXDLP en TI-CMXDLP-C |
De TI-CMXDLP-C geeft de A-Scan in kleur weer, zowel staand als liggend.
| Meetprincipe | Ultrasone Pulse-Echo-meting met een dubbelelementsonde; instelbare meetmodi voor metingen door coatings heen |
| Meetmodi | Pulse-Echo (P-E) Pulse-Echo met coatingmeting (PECT) Temperatuurgecompenseerde Pulse-Echo (PETP) Echo-Echo (E-E) Alleen laagdikte (CT) Echo-Echo Verify (E-EV): beschikbaarheid afhankelijk van model/uitvoering |
| Laagdiktebereik | 0,0127–2,54 mm (0,0005–0,100 in), afhankelijk van de coating en de gekozen meetsonde |
| Dikteresolutie | TI-CMX / TI-CMXDL: 0,01 mm TI-CMXDLP / TI-CMXDLP-C: 0,01 of 0,001 mm, instelbaar |
| Standaard meetsonde | T-102-2900, 1/4-inch, 5 MHz, dubbelelementsonde voor coatingmetingen |
| Hogetemperatuuruitvoering | T-102-2900-H, 1/4-inch, 5 MHz, dubbelelementsonde voor coatingmetingen; materiaaltemperatuur tot 150 °C (-H-uitvoeringen) |
| Datalogging | TI-CMX: Geen interne opslag van meetgegevens TI-CMXDL / TI-CMXDLP / TI-CMXDLP-C: 4 GB intern geheugen; sequentiële registratie en registratie in alfanumerieke rasters |
| Gegevensinterface | USB-aansluiting voor pc; gegevensoverdracht bij modellen met datalogging |
| Display | TI-CMX / TI-CMXDL / TI-CMXDLP: LCD met grijstinten en achtergrondverlichting TI-CMXDLP-C: AMOLED-kleurendisplay |
| Kalibratiebereik geluidssnelheid | 309,88–18.542 m/s |
| Meeteenheden | mm of inch, instelbaar |
| Bedrijfstemperatuur | -10 tot +60 °C (bedrijfstemperatuur van het meetinstrument) |
| Voeding | Drie AA-batterijen of externe voeding via USB |
| Afmetingen | 63,5 × 165 × 31,5 mm (B × H × D) |
| Gewicht | 383 g, inclusief batterijen |
| Kalibratie | Fabriekskalibratie herleidbaar tot NIST; kalibratiecertificaat meegeleverd |
| Garantie | Twee jaar beperkte garantie op het meetinstrument |
| Modelreferentie van de fabrikant | TI-CMXDL: CMX1-DL TI-CMXDLP: CMX2-DL TI-CMXDLP-C: CMX3-DL |
Gerelateerde producten
Gerelateerde producten bekijken
Accessoires
Accessoires bekijken
























